鍍層厚度測量儀

XRF-2000使用Microsoft Windows中，允許多個任務同時進行。在操作過程中也能夠審查測量，進行頻譜分析，并統(tǒng)計處理所有同時自動測量數(shù)據(jù)發(fā)送到Microsoft Excel或其它質量控制程序。

多種測量功能

XRF-2000快速和非破壞性地測量單層，多層，和合金的組合物。在電鍍液和合金的定性分析材料的金屬含量也很快確定。

“點測"自動定位零件

只要將光標移動到視頻圖像的任何區(qū)域，點擊鼠標，和舞臺動作直接與X射線束下的一部分。速度快，可控部件定位在幾秒鐘內完成的輕松。

先鋒XRF-2000電鍍膜厚儀

自定義統(tǒng)計報表

即時預覽任何的五個自定義報表格式的數(shù)據(jù)。

測量數(shù)據(jù)，包括統(tǒng)計數(shù)據(jù)，X-Bar＆R的圖表和被測量的樣品，即使是圖片，可以打印各種布局。外的容限測量以紅色突出顯示。

激光對焦功能

精密激光聚焦于部分提供*一致的測量精度可能，并消除操作錯誤。

樣品臺向前易于工件裝載

打開箱門自動向前帶來的樣品臺易于工件裝卸。精確的樣品放置也得益于定位激光。

先鋒XRF-2000電鍍膜厚儀

多室機型

三個腔室可包括H，L，和PCB的機型。可選功能，如可編程的階段，過濾器和多個準直器允許各種尺寸和形狀為您的特殊要求的零件的測量。

檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
測量范圍:0.04-35um
測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度
全自動臺面,自動雷射對焦，操作非常方便簡單

韓國先鋒X射線鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能*,而且價錢*
同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統(tǒng)，十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺，
可測量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的*。可測量各類金屬層、合金層厚度等。

可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U）  原子序 22 – 92
準直器：固定種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
電腦系統(tǒng)：DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器，惠普彩色打印機
綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析 統(tǒng)計功能

韓國先鋒XRF2000鍍層測厚儀(*)

檢測電子及五金電鍍,化學電鍍層厚度

主要檢測:鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等

韓國先鋒X射線鍍層測厚儀

全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)

特別訂制可測20cm以內高度產(chǎn)品
鍍層厚度測試范圍：0.03－35um

可測試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度
測量時間：10－30秒
精度控制：
      *層：±5%以內
      第二層：±8%以內
      第三層：±12%以內